XAFSの基礎と応用

日本XAFS研究会

5,060円(税込)

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    XAFSの理論・解析法はもちろん、放射光を利用した測定系や時間・空間分解測定、全反射測定、高圧下での測定、その場測定、界面や生体試料を対象とした測定まで、XAFSのすべてがわかる研究者必携の1冊です。本書は2002年刊行『X線吸収分光法─XAFSとその応用』(太田俊明 編・アイピーシー刊)の全面改訂版です。旧版の良い点を受け継ぎ、新しい測定法や解析法を追加しました。※この商品は紙の書籍のページを画像にした電子書籍です。文字だけを拡大することはできませんので、タブレットサイズの端末での閲読を推奨します。また、文字列のハイライトや検索、辞書の参照、引用などの機能も使用できません。

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